Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
Projek ini mengkaji kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka Ni/Si dalam silikon sebagai pengesan foto. This project studied the effects of cryogenic treatment on Ni/Si interface in silicon device as a photodetector.
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Thesis |
| Language: | English |
| Published: |
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://eprints.usm.my/8960/1/KESAN_RAWATAN_KRIOGENIK_TERHADAP_STRUKTUR_ANTARAMUKA_NI_SI_DALAM_PERANTI_SILIKON_SEBAGAI_PENGESAN_FOTO.pdf |
| _version_ | 1825828458794582016 |
|---|---|
| author | Mohd Yusoff, Mohd Zaki |
| author_facet | Mohd Yusoff, Mohd Zaki |
| author_sort | Mohd Yusoff, Mohd Zaki |
| collection | USM |
| description | Projek ini mengkaji kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka Ni/Si dalam silikon sebagai pengesan foto.
This project studied the effects of cryogenic treatment on Ni/Si interface in silicon device as a photodetector.
|
| first_indexed | 2024-03-06T13:53:53Z |
| format | Thesis |
| id | usm.eprints-8960 |
| institution | Universiti Sains Malaysia |
| language | English |
| last_indexed | 2024-03-06T13:53:53Z |
| publishDate | 2008 |
| record_format | dspace |
| spelling | usm.eprints-89602017-03-22T02:23:48Z http://eprints.usm.my/8960/ Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb]. Mohd Yusoff, Mohd Zaki QC350-467 Optics. Light Projek ini mengkaji kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka Ni/Si dalam silikon sebagai pengesan foto. This project studied the effects of cryogenic treatment on Ni/Si interface in silicon device as a photodetector. 2008 Thesis NonPeerReviewed application/pdf en http://eprints.usm.my/8960/1/KESAN_RAWATAN_KRIOGENIK_TERHADAP_STRUKTUR_ANTARAMUKA_NI_SI_DALAM_PERANTI_SILIKON_SEBAGAI_PENGESAN_FOTO.pdf Mohd Yusoff, Mohd Zaki (2008) Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb]. Masters thesis, Universiti Sains Malaysia. |
| spellingShingle | QC350-467 Optics. Light Mohd Yusoff, Mohd Zaki Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb]. |
| title | Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb]. |
| title_full | Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb]. |
| title_fullStr | Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb]. |
| title_full_unstemmed | Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb]. |
| title_short | Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb]. |
| title_sort | kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka ni si dalam peranti silikon sebagai pengesan foto qc373 p9 z21 2008 f rb |
| topic | QC350-467 Optics. Light |
| url | http://eprints.usm.my/8960/1/KESAN_RAWATAN_KRIOGENIK_TERHADAP_STRUKTUR_ANTARAMUKA_NI_SI_DALAM_PERANTI_SILIKON_SEBAGAI_PENGESAN_FOTO.pdf |
| work_keys_str_mv | AT mohdyusoffmohdzaki kesanrawatankriogenikterhadapstrukturantaramukanisidalamperantisilikonsebagaipengesanfotoqc373p9z212008frb |