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    Caracterisation de structures mos submicroniques et analyse de defauts induits par irradiation gamma : extrapolation aux defauts induits dans les oxydes transistors bipolaires /

    Caracterisation de structures mos submicroniques et analyse de defauts induits par irradiation gamma : extrapolation aux defauts induits dans les oxydes transistors bipolaires / by Hazri Bakhtiar 497364

    Published 1999
    “…France : Universite de Metz,…”

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