Zobrazuji výsledky 1 - 2 z 2 pro vyhledávání 'Martin Rejhon', doba hledání: 0,02 s. Upřesnit hledání
  1. 1
    Raman 2D Peak Line Shape in Epigraphene on SiC

    Raman 2D Peak Line Shape in Epigraphene on SiC Autor Jan Kunc, Martin Rejhon

    Vydáno 2020-03-01
    Získat plný text
    Článek
  2. 2
    Low-Temperature Annealing of CdZnTeSe under Bias

    Low-Temperature Annealing of CdZnTeSe under Bias Autor Martin Rejhon, Vaclav Dedic, Roman Grill, Jan Franc, Utpal N. Roy, Ralph B. James

    Vydáno 2021-12-01
    Získat plný text
    Článek

Vyhledávací nástroje: