Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Scanning electron microscopy ;...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Scanning electron microscopy ; theory and applications /
42
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Μορφή:
Έκδοση:
Kuala Lumpur,
1986
Θέματα:
Scanning electron microscopes
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Scanning electron microscopy
ανά: 356151 Wells, Oliver C.
Έκδοση: (1974)
Scanning electron microscopy : systems and applications 1975
ανά: Conference on Scanning Electron Microscopy : systems and Applications 1973, (July 3-5,1973 University of Newcastle Upon Tyne)
Έκδοση: (1973)
Scanning auger electron microscopy /
ανά: Prutton, M, κ.ά.
Έκδοση: (2006)
Principles and techniques of scanning electron microscopy /
ανά: Hayat, M. A.
Έκδοση: (1974)
Scanning electron microscopy for failure analysis of integrated circuits /
ανά: 276078 R Wagiran, κ.ά.
Έκδοση: (1997)