Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /
Project Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | |
| Language: | may |
| Published: |
2000
|