Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /
Project Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000
Main Authors: | , , |
---|---|
Format: | |
Language: | may |
Published: |
2000
|
_version_ | 1826410404672176128 |
---|---|
author | 379164 Arman Bidin Husin Wagiran,lcsupervisor Fakulti Sains |
author_facet | 379164 Arman Bidin Husin Wagiran,lcsupervisor Fakulti Sains |
author_sort | 379164 Arman Bidin |
collection | OCEAN |
description | Project Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000 |
first_indexed | 2024-03-05T01:59:37Z |
format | |
id | KOHA-OAI-TEST:270055 |
institution | Universiti Teknologi Malaysia - OCEAN |
language | may |
last_indexed | 2024-03-05T01:59:37Z |
publishDate | 2000 |
record_format | dspace |
spelling | KOHA-OAI-TEST:2700552020-12-19T17:08:38ZHad pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / 379164 Arman Bidin Husin Wagiran,lcsupervisor Fakulti Sains 2000mayProject Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000Includes bibliographical referencesFSL |
spellingShingle | 379164 Arman Bidin Husin Wagiran,lcsupervisor Fakulti Sains Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
title | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
title_full | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
title_fullStr | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
title_full_unstemmed | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
title_short | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
title_sort | had pengesanan minimum bagi unsur kromium nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar x sebaran tenaga edxrf dalam sasaran sekunder yang berbeza |
work_keys_str_mv | AT 379164armanbidin hadpengesananminimumbagiunsurkromiumnikeldanmolibdenumdalamsampelkelulialoirendahmenggunakansistemspektrometerpendarfluorsinarxsebarantenagaedxrfdalamsasaransekunderyangberbeza AT husinwagiranlcsupervisor hadpengesananminimumbagiunsurkromiumnikeldanmolibdenumdalamsampelkelulialoirendahmenggunakansistemspektrometerpendarfluorsinarxsebarantenagaedxrfdalamsasaransekunderyangberbeza AT fakultisains hadpengesananminimumbagiunsurkromiumnikeldanmolibdenumdalamsampelkelulialoirendahmenggunakansistemspektrometerpendarfluorsinarxsebarantenagaedxrfdalamsasaransekunderyangberbeza |