Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /
Project Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000
| Principais autores: | , , |
|---|---|
| Formato: | |
| Idioma: | may |
| Publicado em: |
2000
|
| _version_ | 1826410404672176128 |
|---|---|
| author | 379164 Arman Bidin Husin Wagiran,lcsupervisor Fakulti Sains |
| author_facet | 379164 Arman Bidin Husin Wagiran,lcsupervisor Fakulti Sains |
| author_sort | 379164 Arman Bidin |
| collection | OCEAN |
| description | Project Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000 |
| first_indexed | 2024-03-05T01:59:37Z |
| format | |
| id | KOHA-OAI-TEST:270055 |
| institution | Universiti Teknologi Malaysia - OCEAN |
| language | may |
| last_indexed | 2024-03-05T01:59:37Z |
| publishDate | 2000 |
| record_format | dspace |
| spelling | KOHA-OAI-TEST:2700552020-12-19T17:08:38ZHad pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / 379164 Arman Bidin Husin Wagiran,lcsupervisor Fakulti Sains 2000mayProject Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000Includes bibliographical referencesFSL |
| spellingShingle | 379164 Arman Bidin Husin Wagiran,lcsupervisor Fakulti Sains Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
| title | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
| title_full | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
| title_fullStr | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
| title_full_unstemmed | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
| title_short | Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / |
| title_sort | had pengesanan minimum bagi unsur kromium nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar x sebaran tenaga edxrf dalam sasaran sekunder yang berbeza |
| work_keys_str_mv | AT 379164armanbidin hadpengesananminimumbagiunsurkromiumnikeldanmolibdenumdalamsampelkelulialoirendahmenggunakansistemspektrometerpendarfluorsinarxsebarantenagaedxrfdalamsasaransekunderyangberbeza AT husinwagiranlcsupervisor hadpengesananminimumbagiunsurkromiumnikeldanmolibdenumdalamsampelkelulialoirendahmenggunakansistemspektrometerpendarfluorsinarxsebarantenagaedxrfdalamsasaransekunderyangberbeza AT fakultisains hadpengesananminimumbagiunsurkromiumnikeldanmolibdenumdalamsampelkelulialoirendahmenggunakansistemspektrometerpendarfluorsinarxsebarantenagaedxrfdalamsasaransekunderyangberbeza |