Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /

Project Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000

Bibliographic Details
Main Authors: 379164 Arman Bidin, Husin Wagiran,lcsupervisor, Fakulti Sains
Format:
Language:may
Published: 2000
_version_ 1826410404672176128
author 379164 Arman Bidin
Husin Wagiran,lcsupervisor
Fakulti Sains
author_facet 379164 Arman Bidin
Husin Wagiran,lcsupervisor
Fakulti Sains
author_sort 379164 Arman Bidin
collection OCEAN
description Project Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000
first_indexed 2024-03-05T01:59:37Z
format
id KOHA-OAI-TEST:270055
institution Universiti Teknologi Malaysia - OCEAN
language may
last_indexed 2024-03-05T01:59:37Z
publishDate 2000
record_format dspace
spelling KOHA-OAI-TEST:2700552020-12-19T17:08:38ZHad pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza / 379164 Arman Bidin Husin Wagiran,lcsupervisor Fakulti Sains 2000mayProject Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000Includes bibliographical referencesFSL
spellingShingle 379164 Arman Bidin
Husin Wagiran,lcsupervisor
Fakulti Sains
Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /
title Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /
title_full Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /
title_fullStr Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /
title_full_unstemmed Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /
title_short Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /
title_sort had pengesanan minimum bagi unsur kromium nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar x sebaran tenaga edxrf dalam sasaran sekunder yang berbeza
work_keys_str_mv AT 379164armanbidin hadpengesananminimumbagiunsurkromiumnikeldanmolibdenumdalamsampelkelulialoirendahmenggunakansistemspektrometerpendarfluorsinarxsebarantenagaedxrfdalamsasaransekunderyangberbeza
AT husinwagiranlcsupervisor hadpengesananminimumbagiunsurkromiumnikeldanmolibdenumdalamsampelkelulialoirendahmenggunakansistemspektrometerpendarfluorsinarxsebarantenagaedxrfdalamsasaransekunderyangberbeza
AT fakultisains hadpengesananminimumbagiunsurkromiumnikeldanmolibdenumdalamsampelkelulialoirendahmenggunakansistemspektrometerpendarfluorsinarxsebarantenagaedxrfdalamsasaransekunderyangberbeza