Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /

Had pengesanan minimum bagi unsur kromium, nikel dan molibdenum dalam sampel keluli aloi rendah menggunakan sistem spektrometer pendarfluor sinar-x sebaran tenaga (EDXRF) dalam sasaran sekunder yang berbeza /

Project Paper (Sarjana Muda Sains serta Pendidikan (Fizik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2000

Bibliographic Details
Main Authors: 379164 Arman Bidin, Husin Wagiran,lcsupervisor, Fakulti Sains
Format:
Language:may
Published: 2000

Similar Items

Similar Items