Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Language
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Tag
Find
Advanced
Kesan suhu terhadap pencirian...
Cite this
Text this
Email this
Print
Export Record
Export to RefWorks
Export to EndNoteWeb
Export to EndNote
Permanent link
Kesan suhu terhadap pencirian elektrik BJT dengan menggunakan simulasi PSPICE /
Project Paper (Sarjana Muda Sains (Fizik Industri)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2007
Bibliographic Details
Main Authors:
Nur Fatihah Mohd Yusoff
,
Hazri Bakhtiar
,
Fakulti Sains
Format:
Language:
may
Published:
2007
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Mengkaji ciri elektrik mosfet terhadap perubahan suhu operasi menggunakan simulasi pspice /
by: 386695 Rahmatia Badaini, et al.
Published: (2007)
Kesan stress terhadap pencirian arus voltan, konfigurasi pemancar sepunya transistor dwi kutub (BJT) /
by: 430377 Shahnaz Abu Bakar, et al.
Published: (2002)
Mengkaji pencirian elektrik mos-controlled thyristor (MCT) secara simulasi dengan menggunakan PSPICE /
by: Hafida Hamzah, author, et al.
Published: (2008)
Mengkaji kesan dopan di bawah sumber dan parit terhadap pencirian elektrik N-mosfet dengan menggunakan simulasi mofset /
by: 444868 Mohd. Syafiq Affandi, et al.
Published: (2010)
Mengkaji pencirian N-mosfet dengan perubahan konsentrasi pendopan substrat menggunakan pspice /
by: 344441 Nurul Humaimah Mansor, et al.
Published: (2007)