Pular para o conteúdo
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Todos os campos
Título
Autor
Assunto
Número de Chamada
ISBN/ISSN
Tag
Buscar
Avançada
Mengkaji kesan stress yang mer...
Citar
Enviar por SMS
Enviar por e-mail
Imprimir
Exportar registro
Exportar para RefWorks
Exportar para EndNoteWeb
Exportar para EndNote
Link permanente
Mengkaji kesan stress yang merupakan faktor masa pengoperasian terhadap pencirian arus-voltan bagi p-mosfet /
Project Paper (Sarjana Muda Sains (Fizik)) - universiti Teknologi Malaysia, 2008
Detalhes bibliográficos
Principais autores:
Michele Anak Linda, 1986-
,
Hazri Bakhtiar
,
Fakulti Sains
Formato:
Idioma:
may
Publicado em:
2008
Itens
Descrição
Registros relacionados
Registro fonte
Registros relacionados
Mengkaji kesan stress yang merupakan faktor masa penggunaan terhadap pencirian arus voltan n-mosfet /
por: 438252 Goopi Maniam, et al.
Publicado em: (2002)
Pencirian arus-voltan bagi transistor kesan medan logam-oksida silikon (mosfet) /
por: 401364 Rizuan Mohd Mahrol, et al.
Publicado em: (2001)
Mengkaji kesan radiasi gamma terhadap pencirian elektrik a-mosfet /
por: 506324 Norha Abdul Hadi, et al.
Publicado em: (2008)
Kesan stress terhadap pencirian arus voltan, konfigurasi pemancar sepunya transistor dwi kutub (BJT) /
por: 430377 Shahnaz Abu Bakar, et al.
Publicado em: (2002)
Pencirian arus-voltan berkomputer /
por: 314173 Ravi Shanker Miniappan
Publicado em: (1994)