Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM /
42
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Formatua: | |
| Hizkuntza: | eng |
| Argitaratua: |
New York, NY : Springer,
2005
|
| Gaiak: |
42
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Formatua: | |
| Hizkuntza: | eng |
| Argitaratua: |
New York, NY : Springer,
2005
|
| Gaiak: |