Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Testing through microcomputers...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
Testing through microcomputers for educational exellence /
PSZJBL
Podrobná bibliografie
Hlavní autor:
Yap, Kueh Chin
Médium:
Témata:
Educational tests and measurements
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Popis
Shrnutí:
PSZJBL
Podobné jednotky
Innovasi pengujian dan penilaian di sekolah /
Autor: Yap, Kueh Chin
Principles of educational and psychological testing /
Autor: 424722 Brown, Frederick Gramm
Vydáno: (1976)
Architectural awards of exellence 1975
Autor: 10597 American Institution of Steel Construction
Vydáno: (1975)
Modern educational testing/
Autor: 279676 Singha, H. S.
Vydáno: (1974)
Standardized tests in education/
Autor: 425712 Mehrens, William A., a další
Vydáno: (1975)