Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /

PSZJBL

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:	Kalinin, S.V. (Sergei Vasil), Gruverman, A. (Alexei)
Μορφή:
Γλώσσα:	eng
Έκδοση:	New York, NY : Springer, 2007
Θέματα:	Scanning probe microscopy Nanoelectronics
Διαθέσιμο Online:	http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

Διαδίκτυο