Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /
PSZJBL
| Egile Nagusiak: | , |
|---|---|
| Formatua: | |
| Hizkuntza: | eng |
| Argitaratua: |
New York, NY : Springer,
2007
|
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6 |