Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /
PSZJBL
| Päätekijät: | , |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | |
| Kieli: | eng |
| Julkaistu: |
New York, NY : Springer,
2007
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6 |