Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /

PSZJBL

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	Kalinin, S.V. (Sergei Vasil), Gruverman, A. (Alexei)
פורמט:
שפה:	eng
יצא לאור:	New York, NY : Springer, 2007
נושאים:	Scanning probe microscopy Nanoelectronics
גישה מקוונת:	http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

אינטרנט