Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /

PSZJBL

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Kalinin, S.V. (Sergei Vasil), Gruverman, A. (Alexei)
Ձևաչափ:
Լեզու:	eng
Հրապարակվել է:	New York, NY : Springer, 2007
Խորագրեր:	Scanning probe microscopy Nanoelectronics
Առցանց հասանելիություն:	http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

Համացանց