Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /
PSZJBL
| Hoofdauteurs: | , |
|---|---|
| Formaat: | |
| Taal: | eng |
| Gepubliceerd in: |
New York, NY : Springer,
2007
|
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6 |