Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /

PSZJBL

Opis bibliograficzny
Główni autorzy:	Kalinin, S.V. (Sergei Vasil), Gruverman, A. (Alexei)
Format:
Język:	eng
Wydane:	New York, NY : Springer, 2007
Hasła przedmiotowe:	Scanning probe microscopy Nanoelectronics
Dostęp online:	http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

Internet