Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /

PSZJBL

Библиографические подробности
Главные авторы:	Kalinin, S.V. (Sergei Vasil), Gruverman, A. (Alexei)
Формат:
Язык:	eng
Опубликовано:	New York, NY : Springer, 2007
Предметы:	Scanning probe microscopy Nanoelectronics
Online-ссылка:	http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

Internet