Scanning probe microscopy : electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale /

PSZJBL

Бібліографічні деталі
Автори:	Kalinin, S.V. (Sergei Vasil), Gruverman, A. (Alexei)
Формат:
Мова:	eng
Опубліковано:	New York, NY : Springer, 2007
Предмети:	Scanning probe microscopy Nanoelectronics
Онлайн доступ:	http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

Інтернет