Modeling nanoscale imaging in electron microscopy /

Modeling nanoscale imaging in electron microscopy /

Includes bibliographical references and index.

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Vogt, Thomas, Dahmen, Wolfgang, 1949-, Binev, Peter
Ձևաչափ:
Լեզու:eng
Հրապարակվել է: New York, NY. : Springer, 2012
Խորագրեր:
Scanning transmission electron microscopy Simulation methods
Image analysis

Նմանատիպ նյութեր