Data mining and diagnosing IC fails /

Data mining and diagnosing IC fails /

16

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: 278808 Huisman, Leendert M.
Format:
Sprog:eng
Udgivet: New York, NY : Springer Verlag, 2005
Fag:
Integrated circuits
Semiconductors
Data mining
Beskrivelse
Summary:16

Lignende værker