Data mining and diagnosing IC fails /

Data mining and diagnosing IC fails /

16

Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолч: 278808 Huisman, Leendert M.
Формат:
Хэл сонгох:eng
Хэвлэсэн: New York, NY : Springer Verlag, 2005
Нөхцлүүд:
Integrated circuits
Semiconductors
Data mining
Тодорхойлолт
Тойм:16

Ижил төстэй зүйлс