Data mining and diagnosing IC fails /

Data mining and diagnosing IC fails /

16

Библиографические подробности
Главный автор: 278808 Huisman, Leendert M.
Формат:
Язык:eng
Опубликовано: New York, NY : Springer Verlag, 2005
Предметы:
Integrated circuits
Semiconductors
Data mining
Описание
Итог:16

Схожие документы