Face image quality inspection system according to ISO standard /

Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Elektrik - Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2012

Detalhes bibliográficos
Principais autores: Ong, Paik Wen, 1982-, Syed Abdul Rahman, supervisor, Fakulti Kejuruteraan Elektrik
Formato:
Idioma:eng
Publicado em: 2012
Assuntos:
Descrição
Resumo:Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Elektrik - Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2012