Test vectors reduction for integrated circuit testing using horizontal hamming distance /
Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Elektrik - Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2016
Váldodahkkit: | , , |
---|---|
Materiálatiipa: | text |
Giella: | eng |
Almmustuhtton: |
Johor Bahru, Johor : Universiti Teknologi Malaysia,
2016
|
Fáttát: |
Čoahkkáigeassu: | Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Elektrik - Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2016 |
---|