Test vectors reduction for integrated circuit testing using horizontal hamming distance /

Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Elektrik - Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2016

Bibliográfalaš dieđut
Váldodahkkit: Arbab Alamgir, 1991-, author 604435, Abu Khari A'ain supervisor 639398, Fakulti Kejuruteraan Elektrik 540663
Materiálatiipa: text
Giella:eng
Almmustuhtton: Johor Bahru, Johor : Universiti Teknologi Malaysia, 2016
Fáttát:
Govvádus
Čoahkkáigeassu:Thesis (Sarjana Kejuruteraan (Elektrik - Komputer dan Sistem Mikroelektronik)) - Universiti Teknologi Malaysia, 2016