Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Caracterisation de fines parti...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Caracterisation de fines particules dans divers prelevements atmospheriques en microscopie analytique en transmission /
39
Dades bibliogràfiques
Autor principal:
288632 Gaudichet, A.
Format:
Matèries:
Particles
Transmission electron microscopes
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
High-resolution electron microscopy and associated techniques/
per: Cowley, J. M. (John Maxwell), 1923-, et al.
Publicat: (1988)
Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis /
per: 233864 Reimer, Ludwig
Publicat: (1984)
Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials /
per: 262434 Goodhew, Peter J.
Publicat: (1984)
Thin foil preparation for electron microscopy/
per: 262434 Goodhew, Peter J.
Publicat: (1985)
Biological electron microscopy/
per: 388645 Gabriel, Barbara L.
Publicat: (1982)