Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces /
42
| Huvudupphovsman: | |
|---|---|
| Materialtyp: | |
| Språk: | eng |
| Publicerad: |
Berlin : Springer-Verlag,
2006
|
| Ämnen: |
| Sammanfattning: | 42 |
|---|