Digital systems testing and testable design /

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: 190964 Abramovici, Miron, Breuer, Melvin A, Friedman, Arthur D.
Format:
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, NY : Wiley-IEEE Press/Wiley Interscience, 1990
Schlagworte:
Digital integrated circuits

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