Digital systems testing and testable design /
16
Egile Nagusiak: | , , |
---|---|
Formatua: | |
Hizkuntza: | eng |
Argitaratua: |
New York, NY : Wiley-IEEE Press/Wiley Interscience,
1990
|
Gaiak: |
16
Egile Nagusiak: | , , |
---|---|
Formatua: | |
Hizkuntza: | eng |
Argitaratua: |
New York, NY : Wiley-IEEE Press/Wiley Interscience,
1990
|
Gaiak: |