Flicker Noise (1/<italic>f</italic>) in 45-nm PDSOI N-Channel FETs at Cryogenic Temperatures for Quantum Computing Applications

Flicker Noise (1/<italic>f</italic>) in 45-nm PDSOI N-Channel FETs at Cryogenic Temperatures for Quantum Computing Applications

In this paper, we have investigated the flicker noise (1/<inline-formula> <tex-math notation="LaTeX">$f$ </tex-math></inline-formula>) in 45-nm RFSOI NFETs for quantum computing applications. 1/<inline-formula> <tex-math notation="LaTeX">$f$ &l...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Shruti Pathak, Sumreti Gupta, P. Srinivasan, Oscar H. Gonzalez, Fernando Guarin, Abhisek Dixit
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: IEEE 2024-01-01
سلاسل:IEEE Journal of the Electron Devices Society
الموضوعات:
Cryogenic temperature
frequency exponent
flicker noise
interface traps
noise model
PDSOI
الوصول للمادة أونلاين:https://ieeexplore.ieee.org/document/10433783/

الانترنت

https://ieeexplore.ieee.org/document/10433783/

مواد مشابهة