ساخت و مشخصه یابی لایه‌های نازک متخلخل BiVO4: تأثیر نقص‌های ساختاری بر خواص فوتوالکتروشیمیایی
در این تحقیق، لایه های نازک متخلخل BiVO4 به ضخامت حدود 1/3 میکرومتر به کمک روش افشانۀ پایرولیز پالسی بر روی بستر رسانای شفاف ITO تهیه شد. بررسی الگوی پراش پرتو X، نشان داده که این لایه ها ساختار چهار وجهی شیلایت داشته و میانگین اندازۀ بلورک های آن حدودnm 16 تخمین زده شد. بر اساس تحلیل نتایج طیف...
| Main Authors: | , , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Isfahan University of Technology
2022-08-01
|
| Series: | Iranian Journal of Physics Research |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://ijpr.iut.ac.ir/article_3255_3453905073c80444ca1d45018fd2699d.pdf |