Approches Deep Learning sur Données Simulées pour la Tomographie Industrielle rapide
Dans ce travail nous proposons une méthodologie pour l’apprentissage d’un réseau de neurones pour le post-traitement et la réduction d’artefacts de tomographie par rayons X en configuration éparse. L’acquisition d’une base de données conséquente pouvant être longue et coûteuse, nous nous appuyons s...
Main Authors: | , , , |
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Format: | Article |
Language: | deu |
Published: |
NDT.net
2023-09-01
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Series: | e-Journal of Nondestructive Testing |
Online Access: | https://www.ndt.net/search/docs.php3?id=28537 |