Approches Deep Learning sur Données Simulées pour la Tomographie Industrielle rapide

Dans ce travail nous proposons une méthodologie pour l’apprentissage d’un réseau de neurones pour le post-traitement et la réduction d’artefacts de tomographie par rayons X en configuration éparse. L’acquisition d’une base de données conséquente pouvant être longue et coûteuse, nous nous appuyons s...

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Bibliographic Details
Main Authors: Romain Vo, Julie Escoda, Caroline Vienne, Étienne Decencière
Format: Article
Language:deu
Published: NDT.net 2023-09-01
Series:e-Journal of Nondestructive Testing
Online Access:https://www.ndt.net/search/docs.php3?id=28537