A New Model of Trapped Charge Sources in Switching Transient Studies in the Presence of Shunt Reactors

Insulation coordination studies are of great importance in power grid reliability. In this paper, a new method is proposed for modeling trapped charge sources (TCS) in switching transient studies. The TCS is used to take into account the voltage stored in line capacitors during reclosing operation a...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Mohsen Akafi-Mobarakeh, Reza Shariatinasab, Pierluigi Siano, Behrooz Vahidi, Hamid Reza Najafi
বিন্যাস: প্রবন্ধ
ভাষা:English
প্রকাশিত: IEEE 2025-01-01
মালা:IEEE Access
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://ieeexplore.ieee.org/document/10896640/