تأثیر ویژگی‌های فیزیکی تیپ و زیرلایه بر تقویت میدان الکتریکی در طیف‌سنجی رامان تقویت‌شده با تیپ
در این مقاله از روش تفاضل محدود در حوزه زمان برای تخمین شدت و توزیع میدان الکتریکی تقویت شده بصورت موضعی در طیف سنجی رامان تقویت شده با تیپ (TERS) در مجاورت تیپ مخروطی شکل به قطر نوک 10 نانومتر استفاده شده است. ضمن مقایسه میدان الکتریکی تقویت شده در دو پیکربندی با زیرلایه و بدون زیرلایه، تأثیر استفا...
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | fas |
| Published: |
Shahid Chamran University of Ahvaz
2022-05-01
|
| Series: | پژوهش سیستم‌های بس‌ذره‌ای |
| Subjects: | |
| Online Access: | https://jrmbs.scu.ac.ir/article_17413_cf434cd1e252e5f2f454c4c17dab188f.pdf |