Resolução lamelar num novo microscópio eletrônico de varredura Lamellar resolution in a new scanning electron microscope
RESUMO: Trabalhando com elétrons de baixa energia (na faixa de 1keV), o novo microscópio eletrônico de varredura dispensa a etapa de metalização e permite a observação direta da estrutura lamelar de polímeros semicristalinos, sem a necessidade de preparação de amostras. São apresentados exemplos da...
| Main Authors: | , , , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Associação Brasileira de Polímeros
1997-03-01
|
| Series: | Polímeros |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0104-14281997000100010 |