Resolução lamelar num novo microscópio eletrônico de varredura Lamellar resolution in a new scanning electron microscope
RESUMO: Trabalhando com elétrons de baixa energia (na faixa de 1keV), o novo microscópio eletrônico de varredura dispensa a etapa de metalização e permite a observação direta da estrutura lamelar de polímeros semicristalinos, sem a necessidade de preparação de amostras. São apresentados exemplos da...
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| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Associação Brasileira de Polímeros
1997-03-01
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| Series: | Polímeros |
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| Online Access: | http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0104-14281997000100010 |
| Summary: | RESUMO: Trabalhando com elétrons de baixa energia (na faixa de 1keV), o novo microscópio eletrônico de varredura dispensa a etapa de metalização e permite a observação direta da estrutura lamelar de polímeros semicristalinos, sem a necessidade de preparação de amostras. São apresentados exemplos da morfologia lamelar do PVDF em função das condições de processamento e da temperatura de cristalização, em filmes contendo as fases a, b e g. Um outro exemplo revela o crescimento inicial da camada transcristalina que se formou ao longo de uma fibra de polietileno de ultra-alto peso molecular embutida em matriz de polietileno de alta densidade.<br>ABSTRACT: Working with low energy electrons (in the range of 1keV), the new scanning electron microscope permits the lamellar (supermolecular) structure of semicrystalline polymers to be observed directly without the need of specimen coating or of any other sample preparation technique. Microscope performance is demonstrated by several examples of high resolution micrographs which show spherulitic, lamellar and fibrilar morphologies developed by the a, b and g phases of PVDF as a function of processing conditions and crystallization temperature. Another example reveals the early stages of transcrystalline layer formation in HDPE reinforced by UHMWPE fibers. |
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| ISSN: | 0104-1428 1678-5169 |