Resolução lamelar num novo microscópio eletrônico de varredura Lamellar resolution in a new scanning electron microscope
RESUMO: Trabalhando com elétrons de baixa energia (na faixa de 1keV), o novo microscópio eletrônico de varredura dispensa a etapa de metalização e permite a observação direta da estrutura lamelar de polímeros semicristalinos, sem a necessidade de preparação de amostras. São apresentados exemplos da...
Main Authors: | Hans-Jürgen Kestenbach, Nádia C. P. S. Nocite, Rinaldo Gregório F°, Joachim Loos, Jürgen Petermann |
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Format: | Article |
Language: | English |
Published: |
Associação Brasileira de Polímeros
1997-03-01
|
Series: | Polímeros |
Subjects: | |
Online Access: | http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0104-14281997000100010 |
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