Origin of giant electric-field-induced strain in faulted alkali niobate films

Origin of giant electric-field-induced strain in faulted alkali niobate films

Maximizing the electromechanical response is crucial for developing piezoelectric devices. Here, the authors demonstrate a giant electric-field-induced strain and its origin in alkali niobate epitaxial thin films with self-assembled planar faults.

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Moaz Waqar, Haijun Wu, Khuong Phuong Ong, Huajun Liu, Changjian Li, Ping Yang, Wenjie Zang, Weng Heng Liew, Caozheng Diao, Shibo Xi, David J. Singh, Qian He, Kui Yao, Stephen J. Pennycook, John Wang
Ձևաչափ: Հոդված
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Nature Portfolio 2022-07-01
Շարք:Nature Communications
Առցանց հասանելիություն:https://doi.org/10.1038/s41467-022-31630-8

Համացանց

https://doi.org/10.1038/s41467-022-31630-8

Նմանատիպ նյութեր