Avanços em caracterização de amostras sólidas cristalinas através de Difratometria de Raios-X
Neste artigo realiza-se uma revisão sobre os fundamentos da técnica de difratometria de raios X, bem como sua utilização nas empresas, universidades, indústrias e centros de pesquisa, como sendo uma das mais difundidas e importantes técnicas de caracterização utilizadas atualmente. Buscou-se fornece...
| Main Authors: | , |
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| Format: | Article |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
Universidade Federal do Amapá
2014-10-01
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| Series: | Estação Científica |
| Online Access: | http://fazendinha.unifap.br/revista/index.php/estacao/article/view/1127 |