MEDIDA DEL ÍNDICE DE REFRACCIÓN COMPLEJO Y DE LA BANDA DE ENERGÍA PROHIBIDA DEL SEMICONDUCTOR CdSe

MEDIDA DEL ÍNDICE DE REFRACCIÓN COMPLEJO Y DE LA BANDA DE ENERGÍA PROHIBIDA DEL SEMICONDUCTOR CdSe

Determinamos el índice de refracción complejo (N) de una película delgada semiconductora de seleniuro de cadmio, CdSe, a través de las medidas del espectro de transmitancia. El experimento nos permitió obtener, de la parte real del índice de refracción la ley de dispersión de N, y de la parte imagin...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Juan Carlos Gonzalez Gonzalez, César Augusto Chung Chang, Carlos León N.
Format: Article
Language:English
Published: Instituto de Investigación de Física 2000-11-01
Series:Revista de Investigación de Física
Subjects:
Índice de refracción
semiconductor
película delgada
CdSe
Online Access:https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8604

Internet

https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8604

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