Caracterização Estrutural de Argilas Utilizando DRX com Luz Síncrotron, MEV, FTIR e TG-DTG-DTA

Caracterização Estrutural de Argilas Utilizando DRX com Luz Síncrotron, MEV, FTIR e TG-DTG-DTA

<p class="orbitalabstract">As argilas utilizadas nesse trabalho foram caracterizadas utilizando-se as técnicas de: difratometria de raios X (DRX) com fonte de luz síncrotron, microscopia eletrônica de varredura (MEV), microanálise por energia dispersiva de elétrons (EDS), espectrosco...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Filipe Quadros Mariani, Juan Carlo Villalba, Fauze Jacó Anaissi
Format: Article
Language:English
Published: Universidade Federal de Mato Grosso do Sul 2014-01-01
Series:Orbital: The Electronic Journal of Chemistry
Subjects:
clays
bentonite
characterization
x-ray diffraction
synchrotron light
Online Access:http://orbital.ufms.br/index.php/Chemistry/article/view/508

Internet

http://orbital.ufms.br/index.php/Chemistry/article/view/508

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