Simultaneous measurement of mid-infrared refractive indices in thin-film heterostructures: Methodology and results for GaAs/AlGaAs
We present our results for simultaneous measurement of the refractive indices of gallium arsenide (GaAs) and aluminum gallium arsenide (Al_{x}Ga_{1-x}As) in the spectral region from 2.0µmto7.1µm (5000cm^{−1}to1400cm^{−1}). We obtain these values from a monocrystalline superlattice Bragg mirror of ex...
| Հիմնական հեղինակներ: | , , , , , , , |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Հոդված |
| Լեզու: | English |
| Հրապարակվել է: |
American Physical Society
2023-07-01
|
| Շարք: | Physical Review Research |
| Առցանց հասանելիություն: | http://doi.org/10.1103/PhysRevResearch.5.033048 |