Simulation of High Breakdown Voltage, Improved Current Collapse Suppression, and Enhanced Frequency Response AlGaN/GaN HEMT Using A Double Floating Field Plate

Simulation of High Breakdown Voltage, Improved Current Collapse Suppression, and Enhanced Frequency Response AlGaN/GaN HEMT Using A Double Floating Field Plate

In this paper, DC, transient, and RF performances among AlGaN/GaN HEMTs with a no field plate structure (basic), a conventional gate field plate structure (GFP), and a double floating field plate structure (2FFP) were studied by utilizing SILVACO ATLAS 2D device technology computer-aided design (TCA...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Peiran Wang, Chenkai Deng, Hongyu Cheng, Weichih Cheng, Fangzhou Du, Chuying Tang, Chunqi Geng, Nick Tao, Qing Wang, Hongyu Yu
Ձևաչափ: Հոդված
Լեզու:English
Հրապարակվել է: MDPI AG 2023-01-01
Շարք:Crystals
Խորագրեր:
AlGaN/GaN high-electron mobility transistors (HEMTs)
floating field plate (FFP)
breakdown voltage
current collapse
frequency response
TCAD
Առցանց հասանելիություն:https://www.mdpi.com/2073-4352/13/1/110

Համացանց

https://www.mdpi.com/2073-4352/13/1/110

Նմանատիպ նյութեր