Multiresolution analysis applied to interpretation of seismic reflection data

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Bibliographic Details
Main Authors: D. E. Rivera-Recillas, M. M. Lozada-Zumaeta, G. Ronquillo-Jarillo, J. O. Campos-Enríquez
Format: Article
Language:English
Published: Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Geofísica 2005-10-01
Series:Geofísica Internacional
Subjects:
transformada ondicular
análisis multiresolutivo
análisis de datos sísmicos
geofísica aplicada
Online Access:http://revistagi.geofisica.unam.mx/index.php/RGI/article/view/212

Internet

http://revistagi.geofisica.unam.mx/index.php/RGI/article/view/212

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