Towards high-bandwidth scanning impedance imaging

Thesis: S.M., Massachusetts Institute of Technology, Department of Electrical Engineering and Computer Science, 2016.

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Kumar, Rakesh, Ph. D. Massachusetts Institute of Technology
מחברים אחרים:	Jeffrey H. Lang and David L. Trumper.
פורמט:	Thesis
שפה:	eng
יצא לאור:	Massachusetts Institute of Technology 2017
נושאים:	Electrical Engineering and Computer Science.
גישה מקוונת:	http://hdl.handle.net/1721.1/107294

אינטרנט

http://hdl.handle.net/1721.1/107294