Sequential screening in semiconductor manufacturing.
Includes bibliographical references (p. 41-42).
מחברים אחרים: | |
---|---|
שפה: | eng |
יצא לאור: |
Alfred P. Sloan School of Management, Massachusetts Institute of Technology, 1992.
2003
|
נושאים: | |
גישה מקוונת: | http://hdl.handle.net/1721.1/2427 |