Testing of a first-generation dynamically programmable gate array

Thesis (M. Eng.)--Massachusetts Institute of Technology, Dept. of Electrical Engineering and Computer Science, 1996.

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Tau, Edward F. (Edward Feiward)
Tác giả khác: Thomas F. Knight, Jr.
Định dạng: Luận văn
Ngôn ngữ:eng
Được phát hành: Massachusetts Institute of Technology 2008
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:http://hdl.handle.net/1721.1/40201

Những quyển sách tương tự