Control of wafer-scale non-uniformity in chemical-mechanical planarization by face-up polishing

Thesis (S.M.)--Massachusetts Institute of Technology, Dept. of Mechanical Engineering, 2008.

Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Mau, Catherine (Catherine K.)
Övriga upphovsmän: Jung-Hoon Chun and Nannaji Saka.
Materialtyp: Lärdomsprov
Språk:eng
Publicerad: Massachusetts Institute of Technology 2009
Ämnen:
Länkar:http://hdl.handle.net/1721.1/45202