Hot-carrier reliability assessment in CMOS digital integrated circuits

Thesis (Ph. D.)--Massachusetts Institute of Technology, Dept. of Electrical Engineering and Computer Science, 1998.

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Jiang, Wenjie, 1963-
مؤلفون آخرون:	James E. Chung.
التنسيق:	أطروحة
اللغة:	eng
منشور في:	Massachusetts Institute of Technology 2009
الموضوعات:	Electrical Engineering and Computer Science
الوصول للمادة أونلاين:	http://hdl.handle.net/1721.1/47514

الانترنت

http://hdl.handle.net/1721.1/47514